在自动化生产线上对小型组件进行高度测量,并非简单的“量个高矮”。这些组件通常体积精巧,如电子元器件、微型连接器、精密机械零件等,它们对尺寸精度有着极高的要求。想象一下,一个手机内部的芯片或电路板上的微小焊点,如果其高度偏差哪怕只有几微米,都可能导致电路接触不良,甚至整个产品无法正常工作。
因此,对这类小型组件的高度测量,核心的技术要求主要体现在以下几个方面:
高精度与高分辨率: 由于组件尺寸微小,毫米甚至亚毫米级的误差都不可接受。我们需要传感器能够“看到”极其微小的尺寸变化,并能精确地分辨出来。
快速响应与高测量速度: 自动化生产线讲究效率,组件以高速通过检测工位。传感器必须在极短的时间内完成测量,跟上生产节拍,实现实时或近实时的在线检测。如果传感器反应慢,就会拖慢整个产线的速度。
非接触式测量: 小型组件通常脆弱,或表面有精密涂层,接触式测量可能会对其造成划伤、变形或污染。非接触式测量能有效避免这些问题,保护组件完整性。
环境适应性: 生产线环境复杂,可能存在灰尘、震动、温度波动等。传感器需要具备一定的防护等级和温度稳定性,确保在恶劣条件下依然能稳定工作。
材料普适性: 小型组件的材质多种多样,从金属、塑料到玻璃、陶瓷,甚至透明或高反射表面。传感器应能适应不同材料特性,提供可靠的测量结果。
针对小型组件的高度测量,业界有专门的标准来定义和评价各种参数,以确保产品质量和互换性。这些标准主要关注以下几个监测参数:
高度(Height):指组件从一个基准面到其最高点或最低点的垂直距离。评价方法通常是直接测量单个点的绝对高度值,或者通过多个点的测量来计算平均高度。
厚度(Thickness):指组件两个相对表面之间的垂直距离。这通常需要从两个方向进行测量,或者通过单次测量来评估。评价方法包括测量最大、最小厚度,以及在指定位置的厚度一致性。
平面度(Flatness):用于评价组件表面的平坦程度,即其表面与一个理想平面之间的最大偏差。评价方法通常是采集表面上多个点的高度数据,然后通过拟合最佳平面,计算所有测量点到该最佳平面的最大偏差值。
共面度(Coplanarity):特别针对多引脚或多触点的组件,评价所有相关触点末端是否处于同一个理想平面上,以及它们偏离这个平面的最大距离。评价方法与平面度类似,但更侧重于特定点的分布。
段差(Step Height):指组件表面上两个相邻区域之间的高度差。这通常通过测量两个区域的平均高度,然后计算它们的差值来评价。
轮廓度(Profile Tolerance):用于评价组件的整体形状或特定截面形状与理论理想轮廓之间的偏差。评价方法是采集大量的点云数据,然后与CAD模型进行比对,计算最大和最小偏差。
这些参数的定义和评价方法旨在提供一套统一的语言和工具,帮助工程师们精确地描述和控制小型组件的几何尺寸,确保其在后续组装和使用中的性能可靠性。
在小型组件生产线上实现快速、精确的高度测量,市面上涌现了多种先进的非接触式检测技术。这些技术各有侧重,其核心原理和适用场景也大不相同。
1. 激光三角测量技术
工作原理与物理基础:想象一下,你拿着一个手电筒(激光发射器)对着一个物体照,同时在旁边固定一个摄像机(接收器)来观察光点的位置。当物体远近不同时,手电筒照在物体上的光点,在摄像机画面中的位置也会发生变化。激光三角测量技术正是利用了这个简单的几何原理。
传感器内部包含一个激光发射器和一个接收器(通常是PSD位置敏感探测器或CMOS图像传感器)。激光发射器以一个固定角度向被测物体表面发射一束激光。当激光束照射到物体表面时,会形成一个光斑。这个光斑的反射光,通过接收镜头聚焦到接收器上。
由于激光发射器、光斑点和接收器形成了一个固定的三角关系,当被测物体的高度发生微小变化时,光斑在接收器上的投影位置也会随之移动。系统正是通过精确测量光斑在接收器上的位置偏移量(Δx),再根据传感器已知的几何参数(如发射角度、接收角度、基线距离等),利用三角几何原理来反推出被测物体的高度变化(ΔH)。
其核心几何关系可以用一个简化的函数来表示:ΔH = f(Δx)
其中,ΔH
是物体高度的变化量,Δx
是光斑在接收器上位置的偏移量。函数 f
包含了传感器内部光学布局的各种固定参数,如激光发射器与接收器之间的基线距离、发射角度、接收角度、接收镜头的焦距以及接收器的像素尺寸等。因此,每台传感器在出厂前都会经过精确校准,建立起ΔH
与Δx
之间准确的对应关系,这个关系通常是非线性的,但在特定测量范围内可以近似为线性,并通过查表或多项式拟合进行修正。
核心性能参数:* 测量范围: 激光三角测量传感器的测量范围从几毫米到几米不等,典型的如几十毫米到几百毫米,高端型号甚至可达2000毫米以上。* 分辨率: 分辨率通常在0.01毫米到0.001毫米(1微米)之间,高精度型号可达亚微米级。* 线性度: 衡量测量结果与真实值之间的偏离程度,通常在满量程的±0.02%到±0.1%之间。* 采样速度: 采样速度从几百赫兹到几百千赫兹,通常在1kHz到300kHz之间,能实现高速在线测量。
技术方案的优缺点:* 优点: 测量范围广、响应速度快、成本相对适中、结构相对简单、易于集成。对多数常见的工业材料有良好的适应性,尤其适合需要进行快速在线检测的自动化生产线。* 局限性: 测量精度受物体表面颜色、粗糙度、反射率等因素影响较大。例如,镜面或透明物体可能导致光斑扩散或无法有效反射光线。此外,传感器安装角度和震动也可能影响测量准确性。* 成本考量: 中等到高端,根据精度和功能复杂程度有所不同。
2. 白光共聚焦色散技术
工作原理与物理基础:白光共聚焦技术听起来很复杂,但我们可以把它想象成一个“光学测高仪”,它利用了“色散”现象——就像阳光穿过棱镜会分解成彩虹一样。传感器发射出的宽带白光(包含多种波长的光),通过特殊设计的物镜,这些不同波长的光会在不同的垂直距离上聚焦。
具体来说,物镜的设计使得短波长的光(如蓝色光)会先聚焦,而长波长的光(如红色光)则在更远的地方聚焦。当被测物体表面处于某个特定高度时,只有恰好聚焦在该表面上的特定波长的光才能被高效地反射回来,并穿过一个被称为“共聚焦针孔”的微小孔径。这个针孔就像一个“筛选器”,只允许来自焦点处的光通过。通过针孔的光被光谱仪接收并分析其波长。系统根据检测到的波长,就能反推出物体表面的精确垂直高度。
核心性能参数:* 测量范围: 测量范围通常较短,例如从0.3毫米到20毫米,最常见的是毫米级。* 分辨率: 极高,最高可达0.001微米(纳米级)。* 线性度: 极优,通常在满量程的±0.01%到±0.05%之间。* 采样速度: 采样速度从几十赫兹到几十千赫兹,典型值在1kHz到70kHz之间。
技术方案的优缺点:* 优点: 测量精度和分辨率极高,尤其适用于微米甚至纳米级的超精密测量。对各种复杂表面,如高反射镜面、透明材料、粗糙表面甚至多层结构都能进行稳定测量,且具有真正的非接触性,不会对工件造成任何损伤。* 局限性: 测量范围相对较小,通常只适用于小尺寸或微细结构的检测。价格昂贵,且对环境震动、温度变化较为敏感。* 成本考量: 高端,通常用于对精度有极致要求的应用。
3. 结构光三维成像技术
工作原理与物理基础:结构光三维成像技术就像是给物体打上一个“带图案的探照灯”,然后用高分辨率相机来“拍照解读”这些图案的变化。系统会向被测物体表面投射已知的光学图案,比如激光条纹、网格或随机点阵。当这些图案投射到具有高度变化的物体表面时,由于透视效应,它们会发生扭曲和变形。
高性能智能相机(或多台相机)会从特定角度捕捉这些变形后的图案图像。通过复杂的图像处理算法和三角测量原理,系统能够根据图案的变形程度,计算出物体表面上每个点的三维坐标。最终,这些点形成密集的“点云数据”,重建出物体的完整三维形状。基于这些三维点云数据,系统可以精确计算出物体的各项高度、形状、体积、平面度、轮廓度等尺寸信息。
核心性能参数:* 测量范围: 视野可从几毫米到数百毫米,高度测量范围可达数十毫米。* 精度(Z轴重复性): 高度方向的重复性可达±2.5微米,具体取决于配置。* 扫描速度: 每秒可采集数千甚至数万个点云数据,适用于快速的全尺寸检测。* X/Y方向分辨率: 可达几微米到几十微米。
技术方案的优缺点:* 优点: 能够一次性获取物体表面的完整三维形状信息,尤其适用于复杂几何形状、不规则表面或需要进行多点同时检测的场景。非接触式,集成度高,易于部署和编程。对不同材料的适应性较好。* 局限性: 相较于单点激光位移传感器,其系统集成度更高,计算量更大,对计算硬件要求也高。测量速度通常不如单点激光位移传感器快,且对物体表面的光学特性(如反光、吸收)较为敏感。* 成本考量: 高端,因为涉及复杂的硬件(投影仪、相机)和软件算法。
市场主流品牌/产品对比
接下来,我们来看看市面上一些知名的品牌及其采用的技术方案和性能特点,以帮助您更好地进行选择。
日本基恩士 日本基恩士是自动化领域的知名品牌,其LK-G5000系列激光位移传感器广泛应用于精密测量。该系列主要采用激光三角测量原理。以LK-G5070为例,它提供最高300毫米的测量范围,分辨率可达0.005微米,线性度优秀,可达±0.02%满量程。其采样速度高达 392 kHz,这使得它在需要高速度、高精度在线检测的场景中表现出色,如电子元件和半导体的高度、厚度及平面度检测。它以高精度、高速非接触测量、强大的抗环境光干扰能力和操作简便性著称。
英国真尚有 英国真尚有ZLDS115激光位移传感器是一款高性能设备,它也采用激光三角测量技术。其测量范围广,最大可达2000mm(2000-4000mm),适应多种应用场景。在精度方面,ZLDS115最高分辨率可达0.01mm,线性度最优可达±0.03mm,确保测量结果的准确性。ZLDS115的更新频率为1kHz,具备良好的响应速度。此外,其温度偏差仅为±0.03% FS/°C,具有良好的温度稳定性,减少了环境温度对测量的影响。该传感器提供模拟输出(4-20mA或1-9V)和数字输出(RS232或RS422)等多样化输出,方便系统集成,并达到IEC IP65防护等级,适合在恶劣环境中使用。ZLDS115还支持高温目标测量,并可通过两个传感器自动配对进行厚度测量,无需额外控制盒或特殊校准。
德国米铱 德国米铱是精密测量领域的专家,其IFS系列白光共聚焦传感器是微米级测量的代表。IFS系列采用白光共聚焦色散原理,如IFS2405-2型号,测量范围通常为几毫米,例如2毫米。它以其极致的测量精度和分辨率闻名,最高分辨率可达0.003微米,线性度可达±0.03%满量程。虽然采样速度相对较低,最高为70 kHz,但其无与伦比的精度使其在对反射性、透明、高光泽或粗糙等复杂表面进行微米级高度检测时具有独特优势,广泛应用于半导体、微光学等领域。
美国康耐视 美国康耐视作为机器视觉和工业识别领域的领导者,其In-Sight 3D-L4000系列提供结构光三维成像解决方案。该系列通过向物体投射激光图案并捕捉其变形来重建三维点云数据。其优势在于能够一次性获取物体的完整三维形状信息,而非仅仅单点高度。测量范围和精度取决于具体型号和镜头,Z轴(高度)重复性在特定配置下可达±2.5微米,X方向分辨率最高可达4微米,每秒可采集4K点云数据。这使其成为复杂几何形状和多种材料批量检测的理想选择,特别是在电子、汽车等行业的质量控制中。
选择设备/传感器时需要重点关注的技术指标及选型建议
选择合适的激光位移传感器就像挑选一把趁手的工具,需要根据具体任务(测量小型组件高度)来匹配其关键性能指标。以下是您在选型时需要重点关注的几个方面:
测量精度与分辨率
实际意义: 分辨率是指传感器能识别的最小高度变化,精度(通常用线性度或重复性表示)则代表测量结果与真实值之间的符合程度和稳定性。想象一下,分辨率是你的眼睛能区分多细微的线条,而精度则是你画的线离标准线有多近,以及每次画线都能画到差不多位置的本事。对于小型组件,如半导体芯片或微型齿轮,它们的尺寸公差可能只有几微米甚至更小。
选型建议: 如果您的组件公差在几十微米以上,0.01mm(10微米)分辨率的激光三角测量传感器通常能满足需求。但如果需要检测焊盘的高度、PCB翘曲或微米级的段差,建议选择分辨率达到1微米甚至亚微米级的产品,例如高性能激光三角测量或白光共聚焦传感器。
测量范围
实际意义: 传感器能够有效测量的最大和最小距离。就像一个卷尺,有的可以量几厘米,有的能量几十米。对于自动化产线,如果组件的高度变化范围很大,或者传感器需要安装在离被测物较远的地方,就需要更大的测量范围。
选型建议: 考虑到小型组件生产线可能遇到的工况,测量范围从几十毫米到几百毫米的传感器比较常见。如果传感器需要避开生产线上的其他设备,或者被测物高度波动较大,应选择测量范围更广的型号。例如,英国真尚有ZLDS115提供最大2000mm的测量范围,在某些特殊安装需求下能提供一定的灵活性。
响应速度与采样频率
实际意义: 响应速度(或采样频率)是指传感器每秒能进行多少次测量。这直接决定了传感器能否跟上生产线的速度。如果产线上的组件以每秒数百个的速度通过,而传感器每秒只能测量几十次,那就会漏检很多产品。
选型建议: 对于高速自动化生产线,建议选择采样频率在1kHz(1000次/秒)以上的传感器。例如,日本基恩士LK-G5000系列能达到392kHz。更高的采样频率意味着在单位时间内可以获取更多数据点,对于组件的动态测量和轮廓重建至关重要。
光斑尺寸
实际意义: 激光束照射到物体表面形成的光斑大小。光斑太大会“模糊”细节,光斑太小可能对表面粗糙度敏感。想象你用手电筒照一个东西,光斑越大,细节越不清楚。
选型建议: 如果要测量微小特征(如焊点、引脚),需要选择聚焦光斑足够小的传感器,以确保只测量到目标区域。光斑直径通常在几十微米到几百微米之间。
材料适应性
实际意义: 传感器对不同颜色、材质(金属、塑料、玻璃、陶瓷、橡胶)、表面光洁度(镜面、哑光、透明)的被测物的适应能力。
选型建议: 对于常见的不锈钢、铝、哑光塑料,激光三角测量传感器表现良好。但如果被测物是透明玻璃、高反光金属或液体,则白光共聚焦传感器通常是更好的选择,因为它对光学特性不敏感。如果需要一次性获取复杂三维信息,结构光传感器更为合适。
环境鲁棒性
实际意义: 传感器在恶劣工业环境(如灰尘、潮湿、油污、震动、温度波动)下稳定工作的能力。这通常由IP防护等级、工作温度范围和温度漂移系数来衡量。
选型建议: 生产线环境普遍复杂,建议选择IP65或更高防护等级的传感器。同时,关注其温度漂移指标,避免环境温度变化导致测量结果不准确。例如,某些型号的激光位移传感器具有良好的温度稳定性,温度偏差较低,这在温度波动较大的环境中非常有利。
输出接口与集成便捷性
实际意义: 传感器与自动化控制系统(PLC、工控机等)通信的方式。常见的有模拟量(4-20mA, 0-10V)、数字量(RS232, RS422/485, EtherCAT, Profinet)。
选型建议: 根据您现有控制系统的接口类型选择合适的输出方式。数字接口通常能提供更稳定、抗干扰能力更强的数据传输。同时,考虑传感器是否提供易于使用的配置软件和开发工具包,以简化集成过程。
实际应用中可能遇到的问题和相应解决建议
即使选择了合适的传感器,在实际应用中也可能遇到一些意料之外的问题,影响测量的稳定性和准确性。
被测物表面特性变化
问题: 生产线上组件的表面颜色、粗糙度、反射率可能不一致,或者有油污、划痕等瑕疵,导致激光光斑不稳定或信号衰减,进而影响测量精度甚至出现误读。例如,同样是金属件,抛光面和拉丝面的反射特性就可能大相径庭。
原因分析: 激光传感器依赖于反射光,表面特性改变会影响光的散射模式和强度。
解决建议:
传感器选型阶段: 优先选择对表面特性不敏感的传感器,例如白光共聚焦传感器对镜面或透明材料有极佳的适应性。
生产工艺优化: 尽量保持被测物表面的一致性。
参数调整: 利用传感器自带的增益调节、滤波功能或特定算法来补偿表面变化。有些传感器允许保存不同材料的设置参数,在检测时根据产品型号进行切换。
多角度测量: 对于复杂表面,可以考虑从不同角度安装多个传感器进行测量,取平均值或进行数据融合。
环境光干扰
问题: 生产线上的强光(如日光、车间照明、焊接火花)可能被传感器误认为是激光反射光,导致测量数据波动大或错误。
原因分析: 外部光源的杂散光进入传感器接收器,与真实的激光信号混淆。
解决建议:
物理遮蔽: 在传感器周围加装遮光罩或防护罩,阻挡大部分环境光。
光学滤波: 传感器通常内置窄带滤光片,只允许特定波长的激光通过,但对于非常强的环境光,可能还需要额外的光学处理。
高频调制: 采用高频调制激光并进行同步解调的传感器,能有效滤除非调制环境光。
调整安装位置: 避免传感器直接对着窗户或强光源。
机械振动与安装不稳定性
问题: 自动化生产线上机械设备通常伴随着振动,如果传感器或被测物没有固定稳固,微小的振动都会导致测量数据抖动,降低重复性。想象你用尺子量一个抖动不停的物体,结果肯定不准。
原因分析: 相对位置的瞬时变化直接引入了测量误差。
解决建议:
刚性安装: 确保传感器安装支架足够坚固,减少振动传递。
减震措施: 在传感器安装座下方增加减震垫,隔离大部分机械振动。
数据滤波: 利用传感器内置的数字滤波器(如滑动平均、中值滤波)对采集到的数据进行处理,平滑瞬时波动。但需注意,滤波可能会牺牲一定的实时性。
提高采样率: 在高频采样下,可以捕捉到更多瞬时数据,通过统计方法(如取平均值或中值)降低振动带来的影响。
温度漂移
问题: 生产线车间温度可能随时间或季节变化,导致传感器内部光学元件或电子元件的热胀冷缩,从而引起测量基准的漂移。
原因分析: 材料的热膨胀系数和电子元件的温度敏感性。
解决建议:
选择温度稳定性好的传感器: 关注传感器技术参数中的温度偏差指标。
环境控制: 在关键测量区域保持相对恒定的温度。
定期校准: 根据使用环境和厂商建议,定期对传感器进行重新校准。
温度补偿: 部分高端传感器内置温度补偿功能,能自动修正因温度变化引起的误差。
激光位移传感器在小型组件生产线上有着广泛而关键的应用,确保产品质量和生产效率。例如,英国真尚有ZLDS115激光位移传感器由于其测量范围广和精度高的特点,可以应用于:
PCB组件高度检测: 在印刷电路板(PCB)生产中,用于检测贴片元件(SMD)的高度是否符合标准,防止因元件虚焊或翘曲导致的电路故障。
焊膏/焊锡高度检测: 在回流焊前,精确测量PCB上焊膏或焊锡的厚度,确保焊点饱满可靠,避免虚焊或短路。
连接器引脚共面度检测: 检查多引脚连接器所有引脚的末端是否在同一平面上,保证后续插拔的可靠性和电气连接性。
微型齿轮/轴承尺寸检测: 对精密机械组件的厚度、段差、平面度进行在线检测,确保其装配精度和功能性。
手机摄像头模组对位与高度差测量: 在手机组装过程中,精确测量摄像头模组与其他部件之间的相对高度和位置,保证成像质量和产品外观。
医疗设备微型零件检测: 对于医疗器械中的微小部件,如导管、植入物等,进行高精度高度和厚度测量,确保其功能性和安全性。
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