V-HG240三维测振系统应用领域：

◇ 微机电系统和纳米机电系统                

◇ 微结构

◇ 转换器

◇ 振动模式分析

◇ 反应谱

◇ 压力传感器

◇ 加速度计

◇ 陀螺仪

◇ 碰撞传感器

◇ 真空室测量

◇ 热变形测量

◇ 老化效应分析

◇ 研究与开发

◇ 质量和生产控制

V-HG240三维测振系统技术规格：

V-HG240三维测振系统测量原理：

V-HG240三维测振系统用一束扩展的激光束照亮目标区域，同时通过一个显微物镜将物体成像到CMOS传感器阵列上。对于平面外测量，一束内部对照光束被用来干涉物体反射的光束。对于平面内测量，两束激光束被用来照亮物体。对于振动测量，系统计算机使用信号发生器运行一个激发装置，目标物体在一个频率范围内被激发。振幅边界能够实时显示，同时独特的记录算法被用来计算数值振幅和相位图。对于静态偏转测量，V-HG240基于相位移动来记录和计算被测量物体的静态偏转。

1. 数值记录

数值操作模式提供了振幅、相位和静态偏转的三维数值测量。对于振动测量，只需从数秒到几分钟的时间就能展示一份全视场高清分辨率的数值记录。对于静态和准静态测量，数值操作模式搜寻从时间t到时间(t+∆t)范围内的表面偏转，∆t的范围可从几秒到几分钟。这意味着当物体在记录期间以有限的速度移动时，也能够连续监测并测量偏转。

2. 动态测量

V-HG240三维测振系统实时测量整个成像区域，提供可靠的全视场数据，包括振动物体的振幅和相位。无需扫描区域，并且所有表面上所有点的数据采集同时完成。平面内振动和平面外振动的标准是振幅噪声基底低于0.1nm且高达240MHz的频率。V-HG240三维测振系统可以针对更高的频率进行定制。

3. 实时分析

V-HG240三维测振系统为静态测量和动态测量提供两种基本操作模式。在实施操作模式下，全视场测量每秒更新30-100次，偏转图以等偏转轮廓的定量方式呈现。任何由激发频率，边界条件或施加负荷导致变化引发的偏转改变都会立刻展示在显示器上。

4. 静态偏转测量

V-HG240三维测振系统测量并展示全视场偏转图，偏转分辨率大约为1-5nm，视空间分辨率的需要而定。最大静态偏转范围为几微米。

V-HG240三维测振系统应用领域：

◇ 微机电系统和纳米机电系统                

◇ 微结构

◇ 转换器

◇ 振动模式分析

◇ 反应谱

◇ 压力传感器

◇ 加速度计

◇ 陀螺仪

◇ 碰撞传感器

◇ 真空室测量

◇ 热变形测量

◇ 老化效应分析

◇ 研究与开发

◇ 质量和生产控制

V-HG240三维测振系统应用领域：

◇ 微机电系统和纳米机电系统                

◇ 微结构

◇ 转换器

◇ 振动模式分析

◇ 反应谱

◇ 压力传感器

◇ 加速度计

◇ 陀螺仪

◇ 碰撞传感器

◇ 真空室测量

◇ 热变形测量

◇ 老化效应分析

◇ 研究与开发

◇ 质量和生产控制

V-HG240三维测振系统安装尺寸：

  请联系我们获取安装尺寸相关数据。