在工业生产中,我们所说的“孔”,不仅仅是指一个简单的圆形开口。它可能是一个贯穿工件的通孔、中途停止的盲孔、带螺纹的螺纹孔、为了特定装配目的而设计的锥形孔或沉头孔等等。这些孔在机械、电子、航空航天等各类产品中扮演着至关重要的角色,比如在发动机缸体中传递油液的孔,或者在电路板上连接线路的微孔。
对孔的测量,通常需要关注以下几个核心方面:
尺寸精度: 这包括孔的直径、深度、孔间距等,需要达到微米甚至亚微米级别。想象一下,如果一个油缸的活塞孔径稍有偏差,活塞在里面移动时可能就会出现卡顿,甚至导致泄漏。
形状精度: 除了直径,孔的圆度(有多接近一个完美的圆)、圆柱度(有多接近一个完美的圆柱体)以及是否有锥度、椭圆度等,都会影响零件的功能和装配。
位置精度: 一个孔相对于其他特征或整个零件的定位是否准确,这涉及到孔的位置度、同轴度、垂直度等。比如,在多孔板上,孔的位置不准,会导致螺丝无法对齐安装。
表面质量: 孔壁的粗糙度、是否有毛刺、划痕等,对于密封、摩擦和疲劳寿命至关重要。
我们今天的技术问题聚焦在“孔面积的高精度测量”,并且是非接触、微米级精度的要求。对于简单的圆形孔,面积可以直接通过直径推算得到。但对于非圆形孔、异形孔,或者需要考量孔边缘实际轮廓所包围的真实面积时,直接测量孔的轮廓并计算面积就变得尤为重要,而且必须是高精度的。
为了确保孔的尺寸和形状符合设计要求,行业内有一套通用的“语言”和“方法”来定义、评价这些参数。这些标准就像是工程师之间的“约定”,确保大家对“合格”的理解一致。
直径 (Diameter): 对于一个孔,直径的定义有很多种。最常见的是两点法直径(任意两点通过圆心),但实际测量中可能会遇到孔不圆的情况。这时,会采用最小外接圆直径(包络孔轮廓的最小圆)或最大内切圆直径(被孔轮廓包络的最大圆)等,这取决于零件的功能需求。
圆度 (Roundness): 它描述了一个孔的横截面轮廓与理想圆之间的偏差程度。评价圆度的方法通常基于最小区域法,即找出包含所有轮廓点且径向距离最小的两个同心圆,它们之间的径向差就是圆度误差。就像一个不完美的甜甜圈,圆度告诉你它的“歪”度。
位置度 (Position Tolerance): 这指的是一个孔的中心线相对于基准位置的允许偏差范围。它通常用一个公差带(比如一个直径为0.1毫米的圆柱体)来定义,孔的中心线必须落在这个公差带内。这就像给停车场的一个车位划定了一个区域,你停车时车头必须在这个区域里。
面积 (Area): 对于圆形孔,面积可以根据测得的直径推算出(S = π * (D/2)^2)。但对于不规则形状的孔,则需要通过采集孔的完整轮廓点,利用数值积分或几何建模方法(例如,将不规则形状近似为多个小三角形或梯形,再将它们的面积累加)来计算。这就要求测量设备能够精确地捕捉到孔的整个边界。
同轴度 (Coaxiality): 如果一个零件上有多个同轴设计的孔,同轴度就用来评价这些孔的中心轴线重合的程度。它通常用一个以基准轴线为中心的圆柱体公差带表示,被测孔的轴线必须落入其中。
这些参数的定义和评价方法,都是为了确保零件在功能、装配和互换性上的可靠性。
要在不接触产品的前提下,实现微米级精度的孔面积测量,市场上已经发展出多种成熟的技术方案。每种方案都有其独特的工作原理、优缺点和适用场景。
3.1 市面上各种相关技术方案
这里我们主要介绍几种主流的非接触测量技术,它们就像不同的“医生”,各自擅长处理不同类型的“病情”。
3.1.1 光学影像测量(阴影测量)
工作原理与物理基础:想象一下,你用手电筒从侧面照亮一个物体,它会在墙上投下一个清晰的影子。光学影像测量(特别是基于阴影原理的技术)的工作方式与此类似。它使用一个平行光源(像一个特别直的光束手电筒)从物体的一侧照射过去,被测的孔会阻挡光线,从而在另一侧的高分辨率CMOS或CCD传感器上形成一个清晰的“影子”轮廓。
这个传感器就像一个拥有无数微小格子的“数字眼”,它能捕捉到光线从亮到暗的边界变化。当光线遇到孔的边缘时,会发生衍射和遮挡,使得光强从有到无(或从无到有)形成一个过渡区。高精度光学系统会聚焦这些边缘,然后通过复杂的图像处理算法来精确识别这些“明暗交界线”。这些算法通常会用到亚像素插值技术,这意味着它们能把一个像素的边界进一步细分,达到比物理像素本身更高的精度。
当系统识别出孔的完整边界(例如,一系列(x,y)坐标点)后,就可以根据这些点计算孔的面积。对于规则的圆形孔,通常会通过最小二乘法等拟合算法,将这些边界点拟合出一个最佳圆形,然后根据拟合出的直径D来计算面积S:
S = π * (D/2)^2
对于不规则形状的孔,系统会将边界近似为多边形,然后利用格林公式(或简化后的鞋带公式)来计算面积。例如,对于一个由点 (x1, y1), (x2, y2), ..., (xn, yn) 组成的多边形,其面积A可以近似为:
A = 0.5 * | (x1y2 - y1x2) + (x2y3 - y2x3) + ... + (xny1 - ynx1) |
核心性能参数:* 精度: 典型范围在±0.5 µm到±5 µm。* 分辨率: 亚微米级(通过亚像素处理)。* 测量速度: 可达每秒数十到数百次测量。* 视场范围: 从几毫米到几十甚至上百毫米见方。
技术方案的优缺点:* 优点: * 非接触: 不会对产品造成任何损伤,特别适合精密零件和易损件。 * 高速: 图像采集和处理速度快,非常适合在线批量检测,能大大提高生产效率。 * 多参数测量: 除了孔面积,还能同时测量孔径、位置、圆度、线性尺寸、角度等多种几何参数。 * 直观: 可以直接看到被测物的图像,便于观察和分析。 * 易于集成: 接口标准化,方便与自动化生产线和机器人集成。* 缺点: * 主要2D测量: 对于具有复杂3D深度特征(如高深宽比的盲孔、内部倒角)的孔,或孔壁存在复杂形貌,单一2D阴影测量可能无法获取全面的三维信息。 * 对边缘清晰度要求高: 如果工件边缘毛刺较多、表面反光严重或存在脏污,会影响边缘提取的准确性。 * 受光学衍射影响: 物理学上的衍射效应会使得光影边界并非绝对锐利,这需要通过先进的边缘检测算法来补偿。 * 无法穿透: 无法测量物体内部的孔或隐藏结构。
适用场景与局限性:广泛应用于精密五金、汽车零部件、电子元器件、医疗器械等行业,适用于对平面轮廓、外形尺寸、孔径、孔面积等2D几何参数有高精度、高速度测量要求的场景。对于材料透明度高、表面粗糙度较大或需要检测内部结构的情况,其局限性比较明显。
3.1.2 X射线断层扫描 (CT)
工作原理与物理基础:X射线CT技术就像给工件拍“三维X光片”。它利用X射线穿透待测工件,X射线在穿透不同密度和厚度的材料时会被不同程度地吸收衰减。一个探测器会接收穿透后的X射线,生成2D的X射线图像。通过让工件进行360度旋转并连续拍摄一系列 2D X射线投影图像,再利用复杂的计算机断层扫描算法(如滤波反投影FBP算法),将这些2D图像重建为工件的三维体素数据(就像由无数个小方块组成的三维模型)。
通过分析这个3D体素模型,我们可以“看到”工件内部的任何结构,包括内部孔洞的几何形状、尺寸和面积,甚至能发现材料内部的缺陷。
X射线衰减的基本物理原理遵循比尔-朗伯定律 (Beer-Lambert Law):I = I_0 * e^(-μx)其中,I_0是入射X射线强度,I是透射X射线强度,μ是材料的线性衰减系数(取决于材料种类和X射线能量),x是X射线穿透的距离。
核心性能参数:* 最小可检测特征尺寸: 通常可达几微米。* 最大工件尺寸: 几百毫米直径和高度(取决于设备功率和视场)。* 测量时间: 从几分钟到几小时不等,取决于所需的精度和工件复杂度。
技术方案的优缺点:* 优点: * 非接触、非破坏: 不损伤工件,可用于成品检测。 * 完整3D信息: 能够获取工件内部和外部的完整三维几何数据,包括复杂的内部孔结构、盲孔、倒角等。 * 缺陷检测: 除了尺寸,还能同时检测材料内部的气孔、裂纹等缺陷。 * 材料通用性: 适用于多种材料,如塑料、陶瓷、金属等(但对高密度金属,X射线源功率要求高)。* 缺点: * 成本高昂: 设备购置和维护成本都非常高。 * 测量速度慢: 单次扫描和重建所需时间较长,不适合高速在线检测。 * 安全要求: X射线具有辐射,需要专门的防辐射措施和操作人员资质。 * 伪影: 在处理高密度材料或复杂结构时,可能会产生X射线散射和伪影,影响测量精度。
适用场景与局限性:适用于对工件内部结构有严格要求、需要进行缺陷检测、或形状极其复杂的精密铸件、增材制造零件、医疗器械、电子封装等。不适合作为生产线的实时在线检测工具。
3.1.3 气动测量
工作原理与物理基础:气动测量利用的是流体力学中的伯努利原理和流量-压力关系。想象你用吸管喝饮料,如果吸管被捏扁了(孔径变小),你吸起来会更费力,即气流阻力变大,流速变慢,压力随之改变。
气动测量系统通常包含一个精密喷嘴探头,向待测孔的内壁喷射恒定压力的压缩空气。当空气流过孔与探头之间的微小间隙时,这个间隙的大小(直接与孔的尺寸相关)会改变空气的流动阻力。系统通过精确测量喷嘴内部或外部的气压或气流速度变化,来间接推断出孔的尺寸。孔的尺寸越大,气流阻力越小,压力变化就越小;反之则越大。
喷嘴与孔壁之间的有效流通面积是影响气压的关键。通过预先标定,系统可以建立气压与孔尺寸之间的精确关系。虽然没有一个简单的统一公式来描述所有气动测量的情况,但基本的原理是:气流通过一个限制性通道时,其流量Q与通道的有效面积A成正比,与压力梯度(P_in - P_out)相关。当孔径(A)改变时,在恒定气源压力下,测量点的压力(P)就会随之变化。
核心性能参数:* 精度: 可达0.1 µm甚至更高(取决于应用)。* 测量范围: 适用于直径0.5mm至150mm的孔。* 测量速度: 毫秒级响应,非常快。
技术方案的优缺点:* 优点: * 超高精度: 对微小尺寸变化极为敏感,能达到极高的测量精度。 * 速度快: 几乎是瞬时响应,非常适合高速在线检测。 * 非接触: 空气不会磨损工件或测量头。 * 环境适应性强: 对油污、灰尘、震动等恶劣工业环境不敏感,不像光学系统容易受光照和表面状态影响。 * 可测盲孔和深孔: 独特的气流特性使其能测量光学方法难以触及的盲孔底部或深孔。* 缺点: * 无法可视化: 只能得到尺寸数值,无法像光学方法那样直观地看到孔的图像或轮廓。 * 专用探头: 每个孔径和形状通常需要定制的测量喷嘴,通用性相对较低。 * 只能测量平均尺寸: 通常测量的是特定截面或区域的平均直径,难以获得完整的形状信息或局部轮廓偏差。 * 受气源稳定性影响: 要求稳定的气源压力和洁净的空气。
适用场景与局限性:广泛应用于汽车、液压、航空航天等行业,用于对高精度孔径(特别是小孔、盲孔、深孔)进行快速、高精度检测。例如发动机气门孔、轴承座孔、油嘴孔等。但如果需要全面了解孔的形状、表面形貌或内部缺陷,气动测量则力所不及。
3.1.4 白光干涉测量
工作原理与物理基础:白光干涉测量技术利用白光(宽谱光)作为光源,像“水波纹”一样,通过迈克尔逊干涉仪等光学系统进行工作。白光被分光器分成两束:一束射向待测的孔表面,另一束射向一个已知平整度的参考镜。当这两束光分别从孔表面和参考镜反射回来,并在探测器处重新汇合时,如果它们的光程差(光学路径长度的差异)在一个非常小的范围内(即白光的相干长度内),就会产生干涉条纹。
当系统通过垂直扫描(通常是移动测量头或参考镜)使得待测表面与参考镜的光程差为零时,干涉条纹的对比度达到最大。通过记录这个最大对比度出现时的垂直位置,系统就能以纳米级精度确定孔表面上每一点的精确高度。最终,将这些高度数据汇集起来,就能重建出孔表面的三维形貌,从而精确计算孔的面积、深度、粗糙度等。
干涉现象的本质是光的叠加原理,对于两束光的叠加强度I,可以表示为:I = I1 + I2 + 2 * sqrt(I1*I2) * cos(Δφ)其中,I1, I2是两束光的强度,Δφ是两束光的相位差。对于白光干涉,因为光源是宽谱的,只有当光程差接近零时,所有波长的光都能发生建设性干涉,形成高对比度的干涉条纹。
核心性能参数:* 垂直分辨率: 极高,通常可达0.01 nm。* 横向分辨率: 亚微米级,约0.35 µm。* 测量范围: 最大视野通常在10x10 mm。* 测量速度: 数秒到数十秒,取决于扫描范围和精度要求。
技术方案的优缺点:* 优点: * 极高垂直分辨率: 能够测量表面上极其微小的形貌特征和高度差。 * 非接触: 对工件无损伤。 * 提供完整3D表面形貌: 不仅能测面积,还能同时获得孔的深度、粗糙度、锥度等详细三维信息。 * 适用材料广: 适用于各种表面材料,包括透明和半透明材料(在特定配置下)。* 缺点: * 对环境敏感: 对振动、气流、温度变化非常敏感,通常需要在严格控制的环境下使用。 * 测量速度相对慢: 通常不适合高速在线检测。 * 视场相对小: 单次测量的区域较小,对于大尺寸孔需要进行图像拼接。 * 对表面反射率有要求: 表面不能完全吸收光线,需要一定的反射率才能形成干涉。
适用场景与局限性:主要应用于半导体、微电子、光学元件、生物医学、微机电系统(MEMS)等领域,用于微纳结构、孔的表面粗糙度、深度、体积、表面缺陷等高精度形貌测量。对于极深孔或高深宽比孔的底部测量可能存在局限性。
3.2 市场主流品牌/产品对比
接下来,我们来看看市面上一些知名品牌在非接触孔面积测量领域的代表性产品和技术特点。我们将以它们所采用的技术类型为线索,进行对比。
日本基恩士 (采用光学影像测量技术) 日本基恩士在光学影像测量领域久负盛名,其IM-8000系列影像尺寸测量仪以“一键测量”概念著称。它利用高精度光学镜头捕捉工件图像,并通过先进的图像处理算法自动识别和提取几何特征。其优势在于操作简便,无需复杂的编程和夹具,只需将工件放置在测量台上即可快速进行全尺寸测量,显著减少人为误差。在核心性能上,其重复精度可达±0.5 µm(针对直径测量),测量多个尺寸通常仅需约1秒,并提供200 x 200 mm的视野范围。这使得它非常适合在线或近线的高速、批量检测需求。
英国真尚有 (采用光学阴影测量技术) 英国真尚有的ZM105.2D系列二维光学测微仪,是专为在线非接触二维批量测量而设计,尤其适用于线性尺寸、直径、角度、螺纹参数、零件形状、跳动等的测量。它基于“阴影”测量原理,通过CMOS传感器扫描被测物体投射的阴影边界,并精确计算尺寸参数。其特点是提供“测量方案”工具,用户可以自行创建测量算法,满足个性化的检测需求。该系列设备根据型号不同,测量精度从±0.8μm到±4.5μm不等,测量速度最高可达每秒130次。部分型号采用双远心光学系统,提供更高的精度和更广的测量深度。该设备配备千兆以太网接口,支持Ethernet/IP、Modbus TCP、UDP等多种工业协议,便于集成到自动化生产线中,并通过逻辑输出直接控制执行机构,实现自动化分拣和质量控制。
德国蔡司 (采用X射线断层扫描技术) 德国蔡司的METROTOM 800是一款高端的X射线断层扫描(CT)系统,它利用X射线穿透工件并进行360度旋转拍摄,然后通过复杂的算法重建出工件的三维模型。这项技术的最大优势在于能够实现非接触、非破坏性地测量工件的内部结构和外部几何形状,甚至可以检测内部缺陷。其最小可检测特征尺寸可低至几微米,最大工件尺寸可达直径约300 mm,高度约300 mm。对于需要精确测量复杂内部孔结构、进行材料缺陷分析或逆向工程的场景,德国蔡司的CT系统提供了无与伦比的解决方案。
意大利马波斯 (采用气动测量技术) 意大利马波斯的P7系列气动测量头配合E9066N电子单元,专注于高精度、高速的孔径测量。该系统基于伯努利原理,通过向孔中喷射恒定压力的空气,测量气流阻力变化来推断孔的尺寸。它的优势在于测量速度极快(毫秒级响应)、精度极高(可达0.1 µm),并且对表面粗糙度不敏感,适用于恶劣的工业环境。马波斯的气动测量方案特别适合直径在0.5mm至150mm之间的小孔、微孔以及盲孔、通孔的快速在线检测,可无缝集成于自动化生产线,且维护成本较低。
美国泰勒霍普森 (采用白光干涉测量技术) 美国泰勒霍普森的Talysurf CCI Optics 3000系统,采用白光干涉测量技术,以其极致的垂直分辨率而闻名。该系统通过分析白光干涉条纹的相位和振幅信息,能够以0.01 nm的垂直分辨率重建出待测孔表面的三维形貌,横向分辨率达到0.35 µm。它能够精确测量微观孔径的面积、深度、粗糙度等参数,非常适合需要对表面微观结构进行高精度分析的应用。尽管其测量速度(数秒至数十秒)和最大视野(10 x 10 mm)相对较小,但在半导体、MEMS、光学元件等领域,其提供的纳米级三维形貌数据具有不可替代的价值。
3.3 选择设备/传感器时需要重点关注的技术指标及选型建议
选择合适的非接触孔面积测量设备,就像为一场特殊任务挑选最合适的工具,需要仔细权衡多种因素。
精度与重复性
实际意义: 精度衡量的是测量结果与真实值之间的接近程度,也就是“准不准”;重复性则衡量多次测量同一位置结果的一致性,也就是“稳不稳”。在微米级精度要求下,这两个指标是设备性能的“生命线”。如果精度不足,测出来的数据就是错的;如果重复性差,每次测量结果都不一样,就没有参考价值。
选型建议: 这是首要考量。一般建议选择设备的测量精度(或不确定度)至少是工件公差的1/10,甚至更高。对于关键尺寸的孔,应查阅详细的精度报告和校准证书。
分辨率(空间分辨率与垂直分辨率)
实际意义: 空间分辨率(或横向分辨率)是指设备能识别的最小细节尺寸,比如能区分开两个非常靠近的孔边缘。它决定了你能捕捉到孔轮廓的精细程度。垂直分辨率(仅对3D测量系统如白光干涉和CT更重要)是指设备能识别的最小高度变化,它决定了你能多精确地了解孔壁的起伏或深度。
选型建议: 如果需要测量极小孔、微孔或对孔的轮廓细节要求很高,应关注具有亚微米甚至纳米级空间分辨率的设备(如光学影像、白光干涉)。如果还需要了解孔的深度、锥度或表面粗糙度,则垂直分辨率也同样关键。
测量速度
实际意义: 设备完成一次测量的耗时。在高速生产线环境中,测量速度直接决定了生产节拍和效率。如果测量速度跟不上,就会成为生产瓶颈。
选型建议:
在线批量检测: 优先选择毫秒级到秒级响应的高速测量设备(如光学影像、气动测量)。
离线抽检或研发: 对速度要求相对宽松,可考虑测量时间较长的设备(如CT、白光干涉),以获取更详尽的数据。
测量范围与视场
实际意义: 测量范围是设备能测量的最大尺寸。视场(Field of View, FOV)是单次测量能覆盖的区域大小。如果孔的尺寸超出设备测量范围,或者单个视场无法覆盖所有需要测量的孔,就会增加额外的操作(如移动工件、图像拼接)或更换设备。
选型建议: 根据被测孔的实际尺寸和需要一次性检测的孔数量来选择。如果孔尺寸较大或需要一次性检测大量孔,选择大视场或可拼接测量区域的设备。
非接触性与适用性
实际意义: 非接触是避免对精密工件造成任何损伤的基础。适用性则要考虑孔的几何特征(通孔、盲孔、深孔、锥孔、异形孔)、工件材料(透明、反光、吸光、高密度)以及表面状态(粗糙、光滑、有油污)等。
选型建议:
通用2D孔轮廓: 光学影像测量是高性价比选择。
高深宽比盲孔、小孔、恶劣环境: 气动测量是强项。
内部结构、缺陷、复杂3D孔: CT技术不可替代。
微观表面形貌、极高深度精度: 白光干涉表现卓越。
3.4 实际应用中可能遇到的问题和相应解决建议
即使选择了最合适的设备,在实际应用中,我们仍然可能遇到一些“拦路虎”,影响测量效果。
问题:光学测量中孔边缘模糊或反光
原因与影响: 这就像照相机拍出来的照片不清晰。如果被测孔的边缘有毛刺、表面粗糙度高、材料本身具有强反光性或透明度高,或者有油污灰尘附着,都会导致光学系统无法清晰准确地捕捉到孔的真实边缘。这会直接导致边缘提取误差,影响孔径和面积的测量精度和重复性。
解决建议:
优化照明: 尝试调整光源的角度、颜色或类型。例如,阴影测量法通常需要平行背光,而有些反光表面可能需要环形光或同轴光。对于反光强的金属,可以尝试使用绿色光源,有时能提高对比度。
表面处理: 在不影响产品功能和后续工艺的前提下,对于高反光或透明材料,可考虑在测量区域喷涂一层极薄的哑光显像剂,形成漫反射表面,便于边缘识别。
清洁维护: 定期清洁工件表面及测量设备的光学镜头,避免灰尘、油污干扰。
调整曝光参数: 合理设置相机曝光时间,避免过曝或欠曝。
问题:测量稳定性受环境影响
原因与影响: 精密测量对环境条件非常敏感。车间内的温度变化可能导致工件或测量设备发生微小的热膨胀/收缩;机器运行产生的振动会使图像模糊或探头位置偏移;空气流动或粉尘会影响光学路径或气动探头的稳定性。这些都会导致测量结果漂移,缺乏一致性。
解决建议:
环境控制: 将测量设备安装在温度、湿度恒定且无振动的环境中。可使用减振台、隔震垫来隔离外部振动。
设备防护: 为光学系统提供防尘罩,并定期清洁设备内部,确保光学部件洁净。
定期校准: 严格按照制造商建议的周期,使用标准量块或校准件对设备进行校准,并记录校准结果。
问题:复杂几何形状孔的测量挑战
原因与影响: 对于非标准的圆形孔、高深宽比的深孔、带有内部倒角或锥度的孔,传统的2D光学测量往往只能获取到表面或某一截面的信息,无法全面反映真实的3D几何特征和面积,可能导致误判。
解决建议:
选择合适技术: 对于内部结构复杂、需要了解3D形貌的孔,CT扫描是最佳选择。对于高深宽比的盲孔,气动测量可能更具优势。
多角度测量与数据融合: 对于2D光学设备,如果条件允许,可尝试从多个角度对孔进行测量,并通过软件进行数据融合,构建更完整的轮廓信息。
结合CAD模型: 将测量数据与产品的CAD设计模型进行比对分析,有助于发现偏差并理解复杂特征。
问题:在线高速测量中的数据处理瓶颈
原因与影响: 现代高速测量系统会产生大量图像或数据,如果后端的数据处理系统计算能力不足,或数据传输带宽受限,就可能导致数据延迟、积压,无法满足生产线节拍,影响效率。
解决建议:
硬件升级: 采用高性能的工业PC,配备更快的处理器、充足的内存和固态硬盘,以加速图像处理和算法运算。
优化算法: 采用更高效、精简的测量算法,甚至利用并行计算、GPU加速等技术来提升处理速度。
高速通信: 确保测量设备与控制系统之间采用高速稳定的通信接口,如千兆以太网,减少数据传输延迟。
边缘计算: 考虑将部分数据预处理或初级分析功能下放到测量设备端,减轻中央控制系统的负担,实现更快的响应。
非接触、高精度孔面积测量技术,在众多行业中发挥着关键作用:
汽车零部件制造: 用于检测发动机缸体、缸盖上的气门孔、油路孔,或变速箱壳体中的轴孔、阀体孔的直径、圆度及面积,确保发动机性能和变速箱的平稳运行。例如,英国真尚有的二维光学测微仪可以应用于汽车零部件的在线检测,通过其高速测量能力和逻辑输出功能,实现自动化分拣和质量控制。
医疗器械生产: 在制造精密注射器针孔、导管孔、内窥镜孔或植入式医疗设备上的微孔时,进行高精度尺寸和面积检测,保障产品功能和安全性。
精密电子元器件: 广泛应用于印刷电路板(PCB)上的通孔、盲孔、半导体晶圆上的微孔以及各种连接器孔的尺寸、位置和面积检测,确保电气连接的可靠性。
航空航天工业: 对飞机发动机叶片、涡轮盘上的冷却孔、燃油喷嘴孔以及其他关键结构件上的精密孔进行严苛的尺寸、形状和面积检测,以满足极高的可靠性和性能要求。
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