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精密制造产线如何实现微米级非接触交点距离测量,高效提升自动化检测水平?【工业测量方案】

2025/11/12

1. 基于工件的基本结构与技术要求

要实现工件非接触微米级精度交点距离测量,我们首先要理解这些“工件”通常是什么样子,以及它们的测量需求有多严苛。想象一下,你可能正在测量一个精密的机械零件,比如一个小型齿轮的两个齿尖之间的距离,或者电路板上两个焊盘中心的间距,甚至是某个复杂结构内部通道的交点位置。这些工件的共同特点是,它们的关键特征通常由直线、圆弧、点等基本几何元素构成,而我们关注的“交点”正是这些几何元素的精确相遇之处。

针对这类工件,我们的技术要求主要有:

  • 非接触性: 工件可能非常精密、易损,或者表面有特殊涂层,任何物理接触都可能对其造成损伤或污染。非接触测量就像医生用X光透视,在不触碰病人的情况下就能看到内部情况,避免了传统接触式测量可能带来的误差和损伤。

  • 微米级精度: “微米”是一个非常小的尺度(一毫米的千分之一),这要求测量结果的误差必须控制在几微米甚至亚微米范围内。这意味着,我们不能只是“差不多”就行,而是要精确到头发丝直径的百分之一甚至更细微。

  • 高效率与自动化: 在现代工业生产线上,测量往往需要与生产节拍同步。这意味着设备需要快速完成测量,并且能够与自动化系统无缝对接,实现连续、批量的自动检测,而不是人工一个个地耗时操作。

  • 通用性和灵活性: 工件的形状千变万化,因此测量系统需要足够灵活,能够适应不同形状、不同材质的工件,并支持自定义测量算法,以应对各种复杂的测量任务。

2. 针对工件的相关技术标准简介

在精密测量领域,为了确保测量结果的准确性和可比性,行业内形成了一系列严谨的技术标准。这些标准定义了我们测量工件时需要关注的参数、如何评估它们,以及测量设备本身的性能指标。

当我们谈论工件上的“交点距离”时,通常需要关注以下监测参数:

  • 尺寸精度: 这是最基本的参数,指实际测得的交点距离与设计图中理论值之间的偏差。这个偏差必须在允许的公差范围内。

  • 几何特征位置和形状: 构成交点的几何特征(如线段、圆、圆弧)本身并非总是理想的。例如,一条“直线”可能存在弯曲,一个“圆”可能不够圆。因此,还需要评估这些几何特征的直度、圆度、平面度等形状公差,以及它们之间的平行度、垂直度、同轴度等方向和位置公差。这些公差直接影响了交点位置的稳定性和测量结果的可靠性。

  • 表面粗糙度: 尤其对于焦点变化测量法等依赖表面形貌的测量技术,工件表面的粗糙度会影响图像的清晰度和边缘识别的准确性。

  • 重复性: 指在相同条件下,对同一个工件的同一交点距离进行多次测量时,测量结果之间的一致性。高重复性是衡量测量系统稳定性的重要指标。

  • 再现性: 指在不同时间、不同操作员或不同设备上,对同一个工件的同一交点距离进行测量时,测量结果之间的一致性。它反映了测量方法和系统的通用性和鲁棒性。

这些参数的评价通常会用到统计分析方法,如Cp/Cpk指数来评估过程能力,或进行量具重复性和再现性(Gage R&R)分析来评估测量系统的稳定性。

3. 实时监测/检测技术方法

(1)市面上各种相关技术方案

实现工件非接触微米级精度交点距离测量,市面上存在多种技术方案,它们各有千秋,适用于不同的应用场景。

a. 机器视觉/阴影投影测量法

工作原理与物理基础: 这种技术就像给工件拍一张超高清晰度的“X光片”,只不过这里用的是可见光。它通常包含一个平行光源、一个放置在光源和图像传感器之间的工件,以及一个高分辨率的CMOS图像传感器和配套的光学镜头(通常是远心镜头)。

当平行光束穿过工件时,工件会阻挡光线,在其后方形成一个非常清晰的阴影。这个阴影的边界就是工件在二维平面上的精确轮廓。CMOS传感器捕捉到这个黑白分明的阴影图像。

接下来是关键的图像处理环节:系统通过一系列复杂的图像处理算法(例如,经典的边缘检测算法如Canny、Sobel算子,它们通过计算图像中像素灰度值的变化梯度来识别边缘),精确地找到阴影的边界像素。为了达到微米级甚至亚微米级精度,还会采用亚像素插值技术,这就像不是简单地将像素点看作一个离散的方块,而是通过分析像素周围的灰度变化趋势,将边缘定位到像素内部的更精细位置。例如,常用的重心法就是通过计算边缘附近像素的灰度加权平均来确定亚像素位置。

一旦得到工件的精确轮廓,测量软件就可以根据预设的几何算法(例如,拟合直线、拟合圆、寻找两条直线的交点、计算两圆心的距离等)来计算出工件上任意两个几何特征的交点,并最终计算出这些交点之间的距离。

  • 物理基础:

    • 光的直线传播: 保证阴影边界与工件轮廓的高度一致性。

    • 衍射效应: 边缘处的光线会发生衍射,这需要在光学设计和算法中予以补偿或利用。

    • 图像处理与数学几何: 边缘检测、亚像素定位、最小二乘拟合等算法是核心。

  • 核心公式(简化示例):

    • 亚像素边缘定位(重心法): 假设在某一扫描行,边缘位于像素 P_iP_i+1 之间,通过检测边缘附近的灰度变化,可以近似计算出亚像素坐标 X_subpixel = Sum(x * I(x)) / Sum(I(x)),其中 x 是像素坐标,I(x) 是对应像素的灰度值。

    • 两点距离计算: 如果识别出两个交点 (x1, y1)(x2, y2),则它们之间的距离 D = sqrt((x2 - x1)^2 + (y2 - y1)^2)

  • 核心性能参数:

    • 测量精度: 典型范围在±0.5 µm到±5 µm之间,高端系统可达亚微米级。

    • 分辨率: 亚微米级。

    • 测量速度: 每秒可达数百次,非常适合在线批量检测。

  • 技术方案的优缺点:

    • 优点: 非接触、高速、高精度,对工件表面材质(如粗糙度、颜色)影响小(因为测量的是阴影边界),可测量复杂二维轮廓、尺寸、角度、螺纹等参数。双远心镜头的使用可以在一定景深范围内保持图像放大倍率不变,减少测量误差。

    • 局限性: 主要用于测量二维轮廓,对工件的Z轴(高度)信息获取有限,难以测量三维形貌。对透明或反光工件可能需要特殊照明技术。

    • 成本考量: 设备成本中等偏高,但由于其高效率和自动化能力,长期运营成本效益显著。

  • 适用场景: 适用于线性尺寸、直径、角度、螺纹参数、零件形状、跳动等多种工件的在线非接触批量测量,如轴类零件、冲压件、螺钉、电子元器件等平面度较好或轮廓特征清晰的工件。

b. 激光三角测量法

工作原理与物理基础: 想象你用激光笔斜着照在一个物体上,光点会落在物体表面。如果物体表面有高低变化,光点的位置就会随之移动。激光三角测量法就是利用这个原理。它发射一束激光线(或一个激光点)到工件表面,然后一个高分辨率CMOS图像传感器会从另一个角度捕捉这个反射光。由于发射器、被测点和传感器形成一个固定的三角形,当工件表面的高度(Z轴)发生变化时,反射光点在传感器上的成像位置(X轴)也会相应移动。通过精确测量这个X轴位置变化,并结合已知的几何关系,就可以计算出工件表面的Z轴高度。通过快速扫描,可以重建出工件的三维轮廓。

  • 物理基础: 几何三角关系。

  • 核心公式(简化): Z = (L * tan(发射角)) / (tan(接收角) - tan(发射角)),其中L是基线长度(激光发射器与传感器之间的距离)。实际应用中,会通过精确标定来建立X与Z的映射关系。

  • 核心性能参数:

    • 重复精度: X轴可达±0.1 μm,Z轴可达±0.5 μm。

    • 采样速度: 高达每秒数万到数十万点。

    • 测量频率: 高达16kHz。

  • 技术方案的优缺点:

    • 优点: 非接触、测量速度极快、能获取三维轮廓数据、对工件表面材质和颜色变化具有较强的适应性。

    • 局限性: 对高反光、透明或镜面工件测量困难,可能产生噪声或测量不稳定。测量范围相对有限,大范围测量可能需要移动平台。

    • 成本考量: 设备成本较高,但高速度使其在高速生产线中具有优势。

  • 适用场景: 零部件的轮廓尺寸、表面形貌、焊接缝隙、平面度、台阶高度等,特别适合高速生产线的在线检测。

c. 焦点变化测量法

工作原理与物理基础: 这种方法的工作方式类似于你用显微镜观察物体,当你调整焦距时,只有特定高度的区域会变得清晰。焦点变化测量系统就是通过高精度垂直移动物镜,在不同的焦平面上连续捕获一系列图像。当工件表面上的某个微小区域恰好处于光学焦点时,其图像对比度最高(最清晰)。系统会分析图像序列中每个像素点的清晰度信息,精确记录下每个点达到最佳焦点时的物镜垂直位置。结合这些垂直位移信息,就能高精度地重建出工件表面的完整三维形貌,形成密集的点云数据。在这个三维数据模型上,测量软件可以识别并测量各种几何特征的交点,并计算其间的距离。

  • 物理基础: 光学显微成像的景深有限性;图像在焦点处空间频率最高。

  • 核心性能参数:

    • Z轴重复精度: 最高可达10 nm。

    • 垂直分辨率: 10 nm。

    • 横向分辨率: 1.0 µm。

    • 可测量倾角: 高达87°。

  • 技术方案的优缺点:

    • 优点: 非接触、极高精度的三维测量(尤其是Z轴方向),对微观和复杂表面形貌、粗糙表面以及具有陡峭斜面的工件有优异的测量能力。能提供完整的表面纹理和形貌信息。

    • 局限性: 测量速度相对较慢,不适合高速在线检测。设备成本高昂。

    • 成本考量: 投入成本较高,但其在微观领域无与伦比的精度使其在特定精密应用中不可替代。

  • 适用场景: 微观结构、表面粗糙度、磨损分析、精密加工零件的3D形貌测量、医疗器械和半导体元件的微纳级检测。

d. X射线计算机断层扫描 (CT)

工作原理与物理基础: X射线CT技术就像是给工件做一次全面的“体检”,它能够穿透工件内部,获取其内部结构的三维信息。工件被放置在一个可精确旋转的转台上,X射线源从一个方向发射X射线穿透工件。X射线穿透不同密度、不同材料或不同厚度的部分时,会被不同程度地吸收和衰减,然后被另一侧的探测器接收。随着工件在X射线束中旋转360度,探测器会从数百甚至上千个角度采集一系列二维的X射线“透视照片”。

这些二维图像本身只是不同角度的投影,无法直接看到内部结构。但通过复杂的重建算法(例如,经典的滤波反投影算法),系统能将这些二维投影数据合成为工件的完整三维体素模型(体素可以理解为三维空间中的“像素”)。在这个高分辨率的三维模型上,测量软件可以像在三维CAD软件里一样,精确识别工件内部或外部的任何几何特征(如孔、槽、交界面),并精确计算出指定交点之间的距离,甚至分析内部缺陷和孔隙。

  • 物理基础:

    • X射线穿透与衰减: X射线在穿透物质时,其强度会因物质的密度、原子序数和厚度而衰减。衰减遵循Beer-Lambert定律:I = I0 * e^(-mu * x),其中 I0 是入射强度,I 是出射强度,mu 是线性衰减系数,x 是穿透距离。

    • 断层重建算法: 基于Radon变换的数学理论,通过处理多个投影数据来反演出三维物体内部的密度分布。

  • 核心性能参数:

    • 体素分辨率: 最小可达约3 µm(取决于工件尺寸和材料)。

    • 测量精度: MPE_E: (4.5 + L/100) µm(根据ISO 10360-2校准规范)。

    • 检测尺寸: 最大测量区域直径可达数百毫米。

  • 技术方案的优缺点:

    • 优点: 唯一的无损内部三维测量方法,能够获取工件内部和外部的完整几何信息,包括传统接触式和光学方法无法触及的复杂交点。可用于尺寸测量、缺陷分析、装配验证和逆向工程。

    • 局限性: 设备成本非常高昂,扫描时间相对较长(从几分钟到几小时),对操作人员专业性要求高。对工件尺寸和材料密度有一定限制。

    • 成本考量: 初始投资巨大,主要用于研发、质检中心或高端制造领域。

  • 适用场景: 复杂铸件、注塑件、复合材料部件、装配体的内部尺寸和缺陷检测,以及无法拆解或内部结构复杂的精密零件测量。

(2)市场主流品牌/产品对比

这里我们将对比几家行业内知名的品牌及其采用的非接触测量技术,以帮助理解各方案的特点。

  • 日本基恩士 (激光三角测量法) 日本基恩士在激光测量领域享有盛誉,其LJ-V7000系列激光轮廓测量仪采用激光三角测量法。该设备通过发射激光线束并接收反射光点来重建工件截面轮廓。其优势在于极高的测量速度,最高可达16kHz的测量频率和每秒64000点的采样速度,在X轴和Z轴方向上,能实现±0.1 μm和±0.5 μm的重复精度。它对工件表面材质和颜色变化具有较强的适应性,广泛应用于汽车、电子、半导体等行业,用于测量轮廓、高度、宽度等尺寸。

  • 英国真尚有 (机器视觉/阴影投影测量法) 英国真尚有ZM105.2D系列二维光学测微仪采用基于阴影测量原理的非接触式二维光学测量技术,通过CMOS传感器扫描工件投射的阴影边界,精确计算物体尺寸参数。该系列提供测量方案工具,允许用户自定义测量算法。标准系列测量速度最高可达每秒130次。根据型号不同,测量精度范围从±0.8μm到±4.5μm不等。G/GR系列配备双远心光学系统,提供更高的精度和更广的测量深度。该系列适用于在线非接触批量测量各种线性尺寸、直径、角度、螺纹参数和零件形状,以及跳动等。灵活的软件功能支持DXF文件导入和自动生成测量方案,简化了复杂零件的设置过程。

  • 美国康耐视 (机器视觉图像处理) 美国康耐视的In-Sight 8000系列视觉系统是机器视觉领域的佼佼者,它通过高分辨率工业相机捕获工件图像,并利用其强大的内置图像处理算法和专利视觉工具(如PatMax等)来识别几何特征、计算交点并测量距离。其核心优势在于高速度和高精度二维测量,分辨率最高可达500万像素,亚像素级精度通常可达±0.5像素甚至更高,处理速度可达每秒数百帧。这使得它非常适合生产线上的100%在线检测。康耐视的解决方案以其强大的软件功能和易于集成性而闻名,能够灵活应对各种复杂的工件检测需求。

  • 奥地利奥谱特龙 (焦点变化测量法) 奥地利奥谱特龙的InfiniteFocusG5Plus光学三维测量系统采用焦点变化测量法,通过垂直移动物镜并连续捕获图像序列,来高精度重建工件表面的完整三维形貌。它的突出优势在于极高的Z轴重复精度(最高可达10 nm)和垂直分辨率(10 nm),以及对微观和复杂表面形貌的优异测量能力。InfiniteFocusG5Plus可以测量高达87°的倾角,并能提供完整的表面纹理和形貌信息,非常适合对微观特征和交点处细节要求极高的应用。由于其测量机理,其测量速度相对较慢,不适合高速在线检测。

(3)选择设备/传感器时需要重点关注的技术指标及选型建议

选择合适的非接触测量设备,就像为一项特殊任务挑选最合适的工具。你需要仔细考量以下几个关键指标:

  • 测量精度 (Accuracy): 这是衡量设备测量结果与工件实际真值之间符合程度的指标。比如,如果一个设备宣称精度为±1微米,就表示它测出来的值与真实值最大偏差不会超过1微米。它直接决定了你的测量结果是否能满足工件的设计公差要求。

    • 选型建议: 测量精度是首要指标。如果你的工件公差要求是±10微米,那么选择精度在±2到±5微米之间的设备会更稳妥,为系统误差和环境波动留出足够的裕量。

  • 重复性 (Repeatability): 指在相同测量条件下,对同一工件的同一特征进行多次测量时,测量结果之间的一致性。高重复性是确保测量数据可靠和测量过程稳定的基础。你可以想象,如果每次测出的数据都不一样,那么再高的精度也没有意义。

    • 选型建议: 对于在线检测和批量生产,高重复性至关重要。设备的重复性指标应远小于其精度指标,以保证每次测量的结果都高度一致。

  • 分辨率 (Resolution): 这是设备能够识别的最小尺寸变化,分为横向分辨率(XY平面)和纵向分辨率(Z轴)。横向分辨率决定了能看清多小的平面细节,纵向分辨率决定了能分辨多微小的高度差异。

    • 选型建议: 如果需要测量非常细小的特征(如0.07mm的线宽),横向分辨率至少要达到这个特征尺寸的十分之一或更小(如几微米)。对于需要获取三维形貌的场景,纳米级的纵向分辨率才能捕捉到微观结构。

  • 测量速度 (Measurement Speed): 设备每秒能完成的测量次数或数据点采集速度。在自动化生产线上,这直接影响生产效率。

    • 选型建议: 根据生产线的节拍和待测工件数量来确定。如果生产线要求每秒检测一个零件,且每个零件需要多次测量,那么设备的速度就必须达到每秒几十甚至上百次测量。

  • 测量范围/视场 (Measurement Range/Field of View, FOV): 设备一次性能够测量的最大区域大小。

    • 选型建议: 确保测量范围足以覆盖被测工件的最大尺寸或所有需要检测的特征区域。如果工件较大而单次视场不够,可能需要分区域测量或选择组合式多传感器方案。

  • 工作距离 (Working Distance): 传感器与被测工件之间的距离。这影响了设备的安装灵活性和是否会与生产线上的其他机构干涉。

    • 选型建议: 在线集成时,长工作距离传感器通常提供更大的安装自由度,可以远离传送带或机械臂,减少碰撞风险。

  • 对工件材质/表面特性适应性: 不同的测量技术对工件表面的颜色、反射率、透明度、粗糙度等特性有不同的敏感度。

    • 选型建议: 了解你的工件材料和表面处理工艺(如抛光、喷砂、镀层),选择对这些特性不敏感或有特殊优化(如特定波长光源、偏振光、多角度照明)的测量系统。例如,激光三角测量对高反光表面可能面临挑战,而阴影测量对透明件效果不佳。

  • 软件功能和集成性: 测量软件的易用性、算法的灵活性、数据分析和报告功能,以及与工业控制系统(如PLC、MES)的通信兼容性。

    • 选型建议: 强大的软件是实现复杂测量的“大脑”,它能自定义测量算法、自动生成测量方案,并提供丰富的数据可视化和分析工具。同时,确保设备具备标准的工业通信接口(如Ethernet/IP、Modbus TCP),以便与你的生产线控制系统无缝集成,实现自动化控制和数据流转。

(4)实际应用中可能遇到的问题和相应解决建议

即使选择了最先进的非接触测量设备,在实际应用中也可能会遇到各种“拦路虎”,影响测量效果。提前了解这些问题并准备解决方案至关重要。

  • 问题1:环境光干扰

    • 原因: 车间里的照明灯、窗外的阳光等外部杂散光进入测量系统的光学路径,会降低工件图像的对比度,使工件的边缘变得模糊不清。

    • 影响: 导致测量结果不稳定,精度急剧下降,甚至可能无法识别工件特征。

    • 解决方案:

      • 物理隔离: 给测量区域加装一个遮光罩封闭式测量腔体,这是最直接有效的方法,像给设备戴上一顶“帽子”或盖一个小“房子”。

      • 光学过滤: 选用系统光源特定波长的窄带滤光片,只允许测量光通过,将大部分环境杂散光挡在外面。

      • 光源优化: 适当增加测量光源的强度,提高信号与噪声的比例。

  • 问题2:工件定位不稳定

    • 原因: 在线检测时,工件在传送带或夹具上的位置可能出现轻微的抖动、偏移甚至角度变化,无法每次都精准地呈现在测量设备的视场中心。

    • 影响: 导致无法准确捕获待测特征,测量失败,或者引入系统性误差,影响测量结果的可靠性。

    • 解决方案:

      • 精密夹具: 采用高精度的机械夹具、定位销或真空吸附装置,确保工件在进入测量区域时位置高度一致。这就像给工件设置一个“专属停车位”。

      • 图像校准: 利用测量软件的图像识别和自动补偿功能,如“模板匹配”或“特征跟踪”算法,即使工件位置有轻微偏移,也能自动识别工件并调整测量坐标系,像给相机装上一个“智能眼睛”来自动找准目标。

      • 触发同步: 对于高速运动的工件,使用触发传感器(如光电开关)来精确控制测量设备的拍照时机,确保在工件到达最佳测量位置时进行捕获。

  • 问题3:工件表面缺陷或脏污

    • 原因: 工件表面可能存在毛刺、油污、灰尘、划痕等缺陷,这些不规则的表面特征可能会被测量系统误认为是工件的真实边缘或特征。

    • 影响: 引入测量误差,导致错误判断工件尺寸是否合格。

    • 解决方案:

      • 清洁工序: 在测量前增加一道工序,如采用气吹、超声波清洗等方法,清除工件表面的污染物和毛刺。

      • 图像预处理: 优化图像处理算法,例如使用形态学滤波、中值滤波等图像预处理技术,可以有效去除图像中的小噪声点或填充小的间隙,像给图像进行“美容”。

      • 光源调整: 调整光源的角度和强度,有时可以使缺陷与真实特征之间的对比度差异更大,从而帮助算法更容易地区分。

  • 问题4:温度变化对测量精度的影响

    • 原因: 测量设备的光学镜头、图像传感器、机械结构等部件,会因为环境温度的波动而发生微小的热胀冷缩,从而导致尺寸基准发生漂移。

    • 影响: 随着时间推移,测量结果可能出现系统性偏差,尤其对于微米级精度的测量系统,影响更为显著。

    • 解决方案:

      • 环境控制: 将测量设备安装在温湿度恒定的受控环境中,减少温度对设备的影响。

      • 定期校准: 建立严格的设备校准和标定计划,尤其是在环境温度发生较大变化时,重新进行校准,确保测量基准的准确性。

      • 设备选型: 优先选用具有温度补偿功能或采用低热膨胀系数材料制造的测量设备。

  • 问题5:复杂几何特征的识别与测量

    • 原因: 工件上可能存在各种复杂的几何特征,如倒角、圆弧(R角)、螺纹、不规则曲线等,这些特征可能不符合简单的直线或圆模型,导致通用测量算法难以准确识别和测量。

    • 影响: 无法获取准确的交点位置,或测量结果与实际偏差较大,影响产品质量判定。

    • 解决方案:

      • 高级软件功能: 选择具有强大专业测量软件和灵活编程能力的设备,允许用户自定义测量算法,甚至可以导入CAD模型进行比对测量。这就像拥有一个“定制工具箱”。

      • 多传感器融合: 对于特别复杂的工件,可以考虑多传感器融合技术,例如结合2D视觉和3D激光传感器,获取更全面的信息,互相补充优势。

      • AI辅助: 针对特定的复杂特征,可以开发专门的图像处理工具,或者利用机器学习、深度学习等人工智能技术进行特征学习和识别,让系统变得更“聪明”。

4. 应用案例分享

  • 汽车零部件制造: 在发动机、变速箱和转向系统等关键部件的生产线上,非接触测量系统能够高速、精确地检测气门、活塞环、齿轮、轴承等零件的孔径、宽度、角度、螺纹参数以及多个特征交点之间的距离,确保装配精度和整车性能。例如,采用机器视觉技术的测量设备,可以快速测量齿轮的齿尖交点距离,保证齿轮啮合的准确性。

  • 电子元器件检测: 对于PCB板上的微型焊盘、连接器引脚、集成电路(IC)封装等,测量系统可以高精度地检测它们的尺寸、间距、共面性,以及引脚阵列的交点距离,保障电子产品的电气连接性能和可靠性。

  • 医疗器械生产: 在手术刀片、注射器针头、骨科植入物等医疗器械的制造过程中,非接触测量被用于精确检测其刃口几何形状、尖端尺寸、导管内外径以及多个孔位或特征的交点距离,以满足严格的精度和安全标准。

  • 精密机械加工: 用于刀具、模具、精密夹具和量具的制造与质检,例如测量切削刃的角度、圆弧半径、齿距和各种复杂型面的交点距离,确保加工质量和工具的耐用性。

  • 航空航天部件检测: 对涡轮叶片、结构件等关键航空航天部件进行高精度几何尺寸和形貌检测,包括复杂曲线的交点、孔位之间的距离等,保障飞行器的安全性和性能。



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