黑色金属工件涂层需达±1微米精度，如何选择高效的非接触式在线厚度测量方案？【工业自动化检测】

涂层厚度测量是工业生产中非常关键的一环，尤其在黑色金属工件上，涂层不仅提供美观，更重要的是防腐、耐磨等功能。传统接触式测量方法，比如磁性测厚仪或涡流测厚仪，虽然操作简便，但在实际应用中很容易引入误差，比如探头压力不一致、工件表面划伤、探头磨损等，而且无法进行高速在线测量。因此，非接触式高精度测量方案越来越受到青睐。

1. 黑色金属工件涂层结构与技术要求

想象一下，我们给一件钢铁零件喷漆，这层漆就是涂层。这个“钢铁零件”就是基材，通常是导电的黑色金属。在它表面涂上防护或装饰层，比如电泳漆、底漆、面漆，甚至是一些功能性涂层（如防腐层、耐磨层）。这些涂层与下面的金属基材紧密结合，共同构成了工件的完整结构。

对这种涂层厚度，我们有几个核心的技术要求：

• 厚度均匀性：涂层厚度必须在整个工件表面保持一致。如果局部过薄，就像“鸡蛋壳”某个地方特别薄一样，它的防护能力就会大大降低，容易出现腐蚀或磨损；如果局部过厚，不仅浪费材料，还可能导致涂层开裂、附着力下降，甚至影响工件的尺寸精度和装配。

• 附着力：涂层必须牢固地粘附在金属基材上，不能轻易剥落。这就像胶水粘东西，光涂上不行，还得粘得住。虽然附着力不是直接的厚度参数，但涂层厚度过大或过小都可能影响附着力。

• 功能性保证：涂层的厚度直接关系到其防腐、耐磨、绝缘等功能的实现。比如，油漆防锈，太薄了很快就生锈了；耐磨涂层，不够厚就达不到预期的使用寿命。

在实际生产中，特别是面对黑色金属工件，由于其表面对可见光的吸收率高，以及涂层的多样性，选择合适的非接触式测量方法变得尤为重要，以确保产品质量和生产效率。

2. 涂层厚度监测参数与评价方法

在评估涂层质量时，我们主要关注以下几个参数的定义和评价方法：

• 标称厚度 (Nominal Thickness)：这是设计或工艺文件规定的涂层厚度目标值，是所有测量和评估的基准。比如，设计要求油漆厚度为30微米，这个30微米就是标称厚度。

• 实际厚度 (Actual Thickness)：这是通过测量设备在工件上实际得到的涂层厚度值。这个值与标称厚度之间的偏差，就是我们通常说的“公差”。

• 厚度均匀性 (Thickness Uniformity)：这个参数描述了涂层在工件表面不同位置厚度的一致性。评价方法通常是取多个测量点，计算它们的平均值、标准差或最大/最小值与平均值的偏差。标准差越小，说明均匀性越好，涂层就像一张铺得平平整整的被子。

• 最大/最小厚度 (Maximum/Minimum Thickness)：在整个测量区域内，涂层的最厚点和最薄点。这有助于判断是否存在局部缺陷或工艺波动。

评价这些参数时，通常会采用统计学方法。比如，在一条生产线上，我们随机抽取一定数量的工件，在每个工件上选取多个有代表性的点进行测量。然后，根据这些数据计算平均厚度、标准差，并绘制控制图来监控生产过程的稳定性。如果数据点超出预设的上下限，就说明生产过程可能失控，需要及时调整。通过这种方式，我们能够确保每一批次产品的涂层厚度都符合质量要求，就像工厂里的“质量守门员”一样，时刻盯着产品达标。

3. 实时监测/检测技术方法

3.1 市面上各种相关技术方案

在非接触式涂层厚度测量领域，市面上有多种成熟的技术方案可供选择。这些技术各有其独特的物理基础、适用场景和优缺点。

3.1.1 激光三角测量法

这种方法是激光位移传感器中最常见的工作原理之一，很多高精度传感器都基于此。它的基本思想就像我们用两只眼睛看物体来判断远近一样。

• 工作原理和物理基础：传感器会发射一道激光束，打到被测物体的表面形成一个光斑。这个光斑反射回来的光线，不是直接沿原路返回，而是被一个接收器（通常是一个CCD或CMOS阵列）在另一个角度捕捉到。当被测物体的表面距离传感器发生变化时，光斑在接收器上的位置就会发生移动。接收器捕捉到光斑位置的变化，通过内置的三角几何计算模型，就能精确地算出物体表面的位移量。

  • 想象一下，你用手电筒照墙，当手电筒离墙远近不同时，光斑反射到你眼睛里的角度也会不同。激光三角测量就是利用这个原理，通过精确测量角度变化来推算距离。

  • 关键公式（简化版）： 假设激光发射器与接收器之间距离为L，激光发射角为 theta，接收器与参考平面夹角为 alpha，光斑在接收器上的位置变化量为 delta_x，则物体表面位移 delta_h 可以近似表示为： delta_h = delta_x * sin(alpha) / sin(theta + alpha) 更精确的计算会涉及到透镜焦距、探测器像素尺寸等复杂参数，但核心就是通过三角函数关系将光斑位置变化转换为距离变化。

• 核心性能参数：

  • 测量范围：通常在几毫米到数百毫米之间。

  • 精度：一般可达到满量程的±0.05%至±0.1%。

  • 分辨率：可达满量程的0.01%甚至更高，意味着能检测到非常微小的位移变化。

  • 测量频率：从几百赫兹到上万赫兹不等，满足高速在线测量的需求。

• 技术方案的优缺点：

  • 优点：

    • 高速性：由于是光学测量，可以实现非常高的测量频率，适用于快速移动的生产线。

    • 非接触：不会对工件表面造成任何损伤，也不会因接触而引入测量误差。

    • 通用性：适用于多种材料表面的位移测量。

    • 成本相对较低：相较于X射线或太赫兹系统，初期投入通常更经济。

  • 缺点：

    • 受表面特性影响：对于黑色或低反射率的表面，激光光斑信号会比较弱，测量稳定性可能会下降。光泽度、粗糙度也会影响测量精度。

    • 不透明涂层穿透性差：激光通常无法穿透不透明涂层去测量下方的基材表面，因此要测量涂层厚度，通常需要先测量基材厚度，再测量涂层+基材的总厚度，然后相减；或者使用两个传感器分别测量涂层上下表面（如果涂层对激光透明）。对于黑色金属工件上的不透明涂层，这会是一个挑战。

    • 对倾斜敏感：当被测表面存在较大倾斜时，反射光可能无法被接收器有效捕捉，导致测量误差或无法测量。

• 适用场景：适用于对工件表面位移或厚度进行高速、高精度在线检测的场景，尤其是在表面反射率适中的材料上。

3.1.2 共焦激光测量法

共焦激光测量法是一种更高级的激光测量技术，专门为解决高精度和复杂表面测量问题而设计。

• 工作原理和物理基础：它不像三角测量那样通过角度来计算距离，而是通过聚焦光线。传感器发射出激光束，经过特殊设计的透镜系统，光束会被聚焦到被测物体表面的一个极小的点上。关键在于，在光路中有一个“针孔”——一个非常小的孔径。只有当反射回来的光线正好聚焦在这个针孔上时，它才能穿过并被探测器接收到。如果物体表面不在这个焦点位置，反射回来的光线就会在针孔处发散或没有完全聚焦，大部分光线会被阻挡。通过精确地移动聚焦透镜（或使用色散原理，让不同波长的光聚焦在不同深度），并寻找反射光强度最大的位置，就能确定被测表面的精确位置。

  • 这就像相机拍照，只有对准焦点的物体才清晰。共焦激光就是通过找到最清晰（反射光最强）的点来确定距离。

• 核心性能参数：

  • 测量范围：通常从几百微米到几十毫米，相对激光三角测量更集中在微小量程。

  • 精度：激光共焦的测量精度可以达到亚微米级别。

  • 分辨率：分辨率通常可以达到几十纳米级别。

  • 采样速度：可达数百千赫兹，满足高速检测。

• 技术方案的优缺点：

  • 优点：

    • 极高精度和重复性：能够实现微米甚至纳米级的测量，是目前光学测量中精度最高的方案之一。

    • 对表面特性不敏感：对黑色、镜面、粗糙、倾斜等挑战性表面都能实现稳定测量，因为它是基于焦点强度而不是反射角度。

    • 可测量多层结构：对于透明或半透明的涂层，共焦激光可以穿透并分别测量涂层顶部和基材表面的距离，从而直接计算涂层厚度。

  • 缺点：

    • 成本高昂：由于光学系统复杂，价格通常比激光三角测量更高。

    • 测量速度相对较低：对于大范围扫描或高速在线应用，其整体速度可能不如某些专门优化过的三角测量系统，但单点测量速度依然很快。

• 适用场景：对精度要求极高，且被测物体表面复杂（如黑色、镜面、多层透明涂层）的精密测量应用。

3.1.3 X射线透射法

X射线透射法是一种利用材料对X射线的吸收特性来测量厚度的非接触式方法。

• 工作原理和物理基础：系统发射低能量的X射线穿透被测材料。当X射线穿过材料时，会被材料吸收一部分能量。材料对X射线的吸收量与其质量、密度和厚度成正比。通过测量穿透材料后的X射线强度，并与未穿透材料时的原始强度进行比较，就可以计算出材料的实际厚度。

  • 关键公式：Lambert-Beer定律 I = I0 * exp(-mu * rho * t) 其中： I0 是入射X射线强度 I 是穿透材料后的X射线强度 mu 是材料的质量吸收系数 (mass absorption coefficient) rho 是材料的密度 t 是材料的厚度 通过测量 I0 和 I，如果已知 mu 和 rho，就可以反推出 t。对于涂层厚度测量，需要考虑涂层和基材的复合吸收效应。

• 核心性能参数：

  • 测量范围：取决于材料密度和X射线源配置。

  • 精度：精度可以达到全量程的0.1%以内。

  • 分辨率：取决于系统配置。

  • 扫描速度：适用于高速生产线。

• 技术方案的优缺点：

  • 优点：

    • 不受表面特性影响：完全不受材料颜色、表面光洁度、温度、湿度等因素的影响，特别适用于黑色不透明材料。

    • 穿透能力强：能够穿透不透明的涂层甚至基材，进行厚度测量。

    • 高精度和高稳定性：提供实时、准确的厚度数据。

  • 缺点：

    • 设备成本高：X射线设备通常价格不菲。

    • 辐射安全：需要采取严格的辐射防护措施，操作人员需要接受专业培训。

    • 对材料成分敏感：当涂层或基材的成分发生变化时，吸收系数会变化，需要重新校准。

• 适用场景：适用于各类薄膜、板材、涂层、复合材料等厚度测量，特别是需要穿透不透明黑色材料进行高精度在线测量的场景。

3.1.4 涡流测量法

涡流测量法是一种专门用于测量导电材料上涂层厚度或自身厚度的技术。

• 工作原理和物理基础：传感器线圈中通入交变电流，产生一个交变磁场。当这个磁场靠近导电的被测材料时，会在材料内部感应出像“漩涡”一样的电流，这就是涡流。这些涡流也会产生一个反向的磁场，它会反作用于传感器线圈，改变线圈的阻抗（电阻和电感）。传感器通过检测这种阻抗的变化，就可以推断出涂层或材料的厚度。对于非导电涂层在导电基材上的厚度测量，涂层越厚，传感器线圈与基材的距离就越大，感应出的涡流强度就越小，阻抗变化也就越明显。

  • 关键公式：虽然没有一个简单的公式直接给出厚度，但阻抗变化 Delta_Z 与厚度 t、电导率 sigma、磁导率 mu、频率 f 以及传感器几何形状之间存在复杂的函数关系： Delta_Z = f(t, sigma, mu, f, geometry) 实际应用中，通常通过校准曲线将阻抗变化映射到厚度值。

• 核心性能参数：

  • 测量范围：通常可以测量从零点几个毫米到几个毫米的厚度。

  • 精度：精度通常在百分之几到百分之十左右，具体取决于应用和材料。

  • 扫描速度：可以实现高速在线扫描。

• 技术方案的优缺点：

  • 优点：

    • 非接触式：对工件无损伤。

    • 高速高效：适用于在线批量检测。

    • 适用范围广：对导电材料上的非导电涂层、或导电涂层本身的厚度测量效果良好，包括黑色金属。

    • 设备相对紧凑和坚固：易于集成到工业环境中。

  • 缺点：

    • 仅限于导电材料：涂层或基材必须是导电的。无法测量非导电涂层在非导电基材上的厚度。

    • 受材料特性影响大：基材或涂层的电导率、磁导率变化都会影响测量结果，需要精确校准。

    • 边缘效应和曲面效应：在工件边缘或曲率较大的地方，涡流分布会发生变化，导致测量误差。

• 适用场景：主要用于导电基材上的非导电涂层厚度测量，以及导电涂层（如金属镀层、导电漆）的自身厚度测量，如汽车涂装、航空航天碳纤维复合材料的检测等。

3.2 市场主流品牌/产品对比

这里我们将对比几款市场上的主流产品，它们各自采用了不同的技术，在特定应用场景下表现出色。

• 美国赛默飞世尔科技： 该品牌在科学服务领域享有盛誉，其OMNiiX厚度测量系统主要采用X射线透射原理。这款系统发射低能量X射线穿透被测材料，通过测量X射线被材料吸收的量来计算厚度。其核心优势在于测量不受材料颜色、表面光洁度或温度变化的影响，尤其适用于黑色不透明材料。

  • 核心性能参数：测量范围典型应用0-5000 µm，精度< 0.1% 全量程 (通常在+/-0.05%范围内)，分辨率0.01 µm，扫描速度高达3000米/分钟。

  • 应用特点和独特优势：能够对黑色不透明材料进行非接触式、高精度在线厚度测量，提供实时、准确的数据，特别适合高速、大批量生产线对薄膜、板材、涂层等产品的质量控制。

• 英国真尚有： 英国真尚有ZLDS103激光位移传感器是一款超小型高性能的测量设备，其作为“激光位移传感器”，表明它采用了激光三角测量法。该传感器通过测量物体表面位移来间接实现涂层厚度测量（例如，测量涂层表面高度和基材表面高度差）。

  • 核心性能参数：线性度±0.05%，分辨率高达0.01%（数字输出），测量频率最高9400Hz。提供10/25/50/100/250/500mm等多种量程选择。

  • 应用特点和独特优势：体积紧凑，尺寸仅45*30.5*17mm，适合安装在空间受限的场所。支持多种量程和双激光选项（红光、蓝光、UV光），其中蓝光/UV光对黑色或有机材料的测量有优化作用。防护等级达IP67，环境适应性强，工作温度范围为-10°C至+60°C，适应恶劣环境。

• 日本基恩士： 日本基恩士作为自动化领域的领导者，其LK-G5000系列高精度位移传感器采用共焦激光原理。这种技术通过精确聚焦光线并检测反射光强度峰值来确定物体表面位置。它在处理黑色、粗糙或镜面等挑战性表面时表现出色，能够有效抑制表面特性带来的影响。

  • 核心性能参数：测量范围0.3 mm至30 mm，精度±0.01 µm至±0.1 µm，重复精度可达0.005 µm，采样速度高达392 kHz。

  • 应用特点和独特优势：极高的精度和重复性，即使在极具挑战性的表面也能稳定测量。其超高速采样能力使其非常适合在线批量检测，同时对于透明涂层，能够测量多层厚度。

• 德国赫纳： 德国赫纳在太赫兹技术领域拥有深厚实力，其T-Rays G3太赫兹系统采用太赫兹时域光谱原理。系统发射超短太赫兹脉冲穿透被测材料，通过分析反射或透射脉冲的飞行时间、幅度衰减和相位变化来精确确定材料的厚度和多层结构。太赫兹波对非导电黑色物体具有较好的穿透能力。

  • 核心性能参数：测量范围数十微米至数毫米，精度通常在 ±1 µm 或 ±0.1% 范围内。测量速度快，可集成到生产线中。

  • 应用特点和独特优势：提供非接触式、无损的厚度测量，尤其适用于对光不透明的非导电材料（如黑色聚合物、复合材料涂层）进行多层厚度检测，且太赫兹波是非电离辐射，安全可靠。

• 瑞士普卢默： 瑞士普卢默（现属于Screening Eagle Technologies）是无损检测领域的知名品牌，其涡流阵列系统采用涡流原理。该系统通过感应涡流在导电材料内部产生反作用，从而推断材料厚度。对于导电的黑色物体，如碳纤维复合材料或导电涂层，此方法可进行非接触式测量。

  • 核心性能参数：测量范围0.1 mm至数毫米，精度典型 ±1% 至 ±5% 读数。高速在线扫描，取决于阵列配置和数据处理能力。

  • 应用特点和独特优势：非接触式、高效的厚度测量和缺陷检测能力，尤其适用于导电的黑色材料，能快速扫描大面积区域，提高检测效率。

3.3 选择设备/传感器时需要重点关注的技术指标及选型建议

选择合适的非接触式测量方案，就像为不同任务选择合适的工具一样，要根据具体需求来。以下是几个关键的技术指标和选型建议：

• 精度和分辨率：

  • 实际意义：精度是指测量结果与真实值之间的接近程度，分辨率是指传感器能检测到的最小变化量。它们直接决定了测量结果的可靠性和对微小厚度变化的感知能力。比如，如果涂层厚度公差只有几个微米，那么传感器的精度和分辨率就必须达到微米级甚至亚微米级。

  • 影响：精度和分辨率不足会导致误判，可能让不合格产品通过，或让合格产品被误判为不合格，直接影响产品质量和生产成本。

  • 选型建议：对于要求极高精度的精密涂层（如电子产品、光学镀膜），应优先选择共焦激光或高精度X射线系统。对于一般工业涂层，高线性的激光三角测量传感器已能满足需求。

• 测量范围（量程）：

  • 实际意义：传感器能够有效测量的厚度上下限。

  • 影响：如果涂层厚度超出传感器的测量范围，就无法进行有效测量。

  • 选型建议：根据实际涂层厚度范围选择匹配量程的传感器。量程过大可能牺牲精度，量程过小则无法覆盖所有测量需求。例如，英国真尚有ZLDS103提供了10/25/50/100/250/500mm等多种量程，可以灵活选择。

• 测量速度（响应时间）：

  • 实际意义：传感器进行一次测量并输出结果所需的时间，或单位时间内能完成的测量次数（频率）。

  • 影响：直接关系到生产线的节拍和在线检测的效率。高速生产线需要高频率的传感器。

  • 选型建议：对于高速在线生产线，X射线系统和激光三角测量通常能提供极高的测量频率。共焦激光和太赫兹系统也提供快速测量能力，但需考虑其单点与扫描速度的综合效率。

• 被测物特性（颜色、反射率、导电性、透明度）：

  • 实际意义：黑色金属工件上的涂层，其颜色深浅、表面光泽度、是否导电、以及对特定波长光的透明度都会极大影响测量方法的选择。

  • 影响：例如，黑色表面对可见光吸收多，导致激光信号弱；导电材料才能用涡流；透明涂层可以被穿透，而不透明涂层则不能。

  • 选型建议：

    • 针对黑色不透明涂层：X射线透射法是通用且不受颜色影响的优选。若涂层是非导电且非极性聚合物，太赫兹也是好选择。

    • 针对黑色或低反射率但对精度要求极高的场景：共焦激光是理想选择，它对表面特性不敏感。

    • 针对导电基材上的非导电涂层：涡流测量法高效且成本相对较低。

    • 激光位移传感器：通过选择蓝光或UV激光选项，可以改善对黑色、有机材料的测量效果，提高信号强度和稳定性。

• 环境适应性（防护等级、工作温度、抗振动/冲击）：

  • 实际意义：传感器在恶劣工业环境下（如高温、潮湿、多尘、振动）能否稳定可靠工作。

  • 影响：环境适应性差会导致设备故障、测量不稳定或缩短寿命。

  • 选型建议：工业现场应选择防护等级高（如IP67）、工作温度范围宽、抗振动抗冲击能力强的传感器。英国真尚有ZLDS103的IP67防护等级和宽温、抗振动冲击设计，使其非常适合严苛的工业环境。

• 成本：

  • 实际意义：设备的采购成本、安装成本、维护成本以及操作成本。

  • 影响：预算是任何项目的重要考量因素。

  • 选型建议：在满足技术要求的前提下，选择性价比最高的方案。激光三角测量传感器通常成本相对较低，X射线和太赫兹系统则投入较高。

3.4 实际应用中可能遇到的问题和相应解决建议

在黑色金属工件涂层厚度测量的实际应用中，我们可能会遇到一些“拦路虎”，影响测量结果的准确性和稳定性。了解这些问题并提前做好准备，就像工程师在项目初期进行风险评估一样重要。

• 问题1：黑色表面对激光吸收严重，导致信号弱，测量不稳定

  • 原因及影响：黑色物体会吸收大部分可见光，反射回传感器的光线非常微弱。这就像在漆黑的房间里寻找一个同样漆黑的物体，非常困难。这会导致传感器接收到的有效信号强度不足，信噪比下降，从而测量精度降低，甚至无法获取有效数据。

  • 解决建议：

    • 选择短波长激光：例如，选用蓝光或UV激光器。短波长激光在黑色材料上的散射和反射率通常会比红光稍好，能够提供更强的反射信号。

    • 选用高灵敏度传感器：具有更高灵敏度探测器和先进信号处理算法的传感器，能从微弱的反射信号中提取出有效信息。

    • 采用共焦激光技术：共焦激光测量法对表面反射率和颜色不敏感，因为它主要依赖于焦点位置的检测，而不是反射光的强度。

• 问题2：工件表面不平整、存在曲面或倾斜，造成测量偏差

  • 原因及影响：如果工件表面凹凸不平、有较大曲率或倾斜角度，激光束打在表面后，反射光的方向会发生变化。对于基于三角测量原理的传感器，接收器可能无法完整捕捉到反射光斑，导致测量数据不准确或测量值大幅波动。

  • 解决建议：

    • 多点测量与轮廓扫描：对复杂表面进行多点测量或利用传感器进行轮廓扫描，通过数据后处理来获得整体的厚度分布和平均厚度。

    • 选择大景深传感器：具有较大景深的传感器对焦点范围的容忍度更高，在一定程度上可以适应表面起伏。

    • 使用共焦激光传感器：共焦激光对表面倾斜的敏感度较低，因为其原理是寻找焦点的最大强度，即使表面有一定倾斜，只要光能反射回针孔，就能准确测量。

    • 优化传感器安装角度：将传感器安装在尽可能垂直于被测表面的位置，以最大程度保证反射光回到接收器。

• 问题3：环境光干扰、灰尘或油污影响测量结果

  • 原因及影响：生产现场常常有明亮的环境光、漂浮的灰尘或工件表面的油污。环境光可能作为噪声混入传感器接收到的信号中，导致数据波动；灰尘和油污则会改变工件表面的光学特性，造成测量值不准确。

  • 解决建议：

    • 加装遮光罩和防尘罩：在传感器周围安装物理遮挡，减少环境光和灰尘对测量区域的影响。

    • 选择抗环境光能力强的传感器：有些传感器设计有特定的滤波机制，能够有效滤除环境光干扰。

    • 定期清洁：定期清洁传感器镜头和工件表面，确保光学通路畅通无阻。

    • 高防护等级设备：选用防护等级高（如IP67）的传感器，可以有效抵御灰尘和水汽的侵入，提高设备可靠性。

• 问题4：涂层材料特性（如密度、组分、光学特性）批次间变化，影响校准和测量准确性

  • 原因及影响：在不同的生产批次中，涂层材料的密度、化学组分或光学特性可能存在微小差异。对于依赖这些物理参数进行测量的技术（如X射线透射法依赖吸收系数，涡流法依赖电导率，激光法依赖反射率），这种变化会导致原有的校准曲线不再准确，需要频繁重新校准。

  • 解决建议：

    • 选择对材料特性不敏感的技术：例如，X射线透射法在一定范围内对材料颜色不敏感，但对密度和组分敏感。太赫兹法对非极性材料相对稳定。

    • 建立多曲线校准：根据不同批次或不同型号材料的特性，建立多条校准曲线，并在测量时选择对应的曲线。

    • 引入在线材料分析：对于关键参数（如材料密度、电导率），可结合在线材料分析设备进行实时监测，并据此动态调整测量系统的校准参数。

    • 使用标准试样定期验证：定期使用已知厚度和特性的标准试样对测量系统进行验证，及时发现并纠正校准偏差。

4. 应用案例分享

• 汽车制造：在汽车生产线上，非接触式测量设备广泛用于监测车身漆面（底漆、色漆、清漆）的总厚度及各层厚度。这有助于确保漆面质量，提高防腐性能和美观度，并优化涂装工艺。

• 电子产品：在电路板（PCB）制造中，绝缘涂层、阻焊层的厚度对电路性能至关重要。非接触式传感器能够高精度测量这些微米级涂层，确保产品可靠性。

• 能源领域：大型风力涡轮机叶片或太阳能电池板的表面保护涂层厚度，直接影响其户外使用的寿命和效率。非接触式测量系统可用于在线监测，确保涂层均匀性和功能性。 英国真尚有的传感器由于其体积小巧，在空间受限的场合表现突出。

• 航空航天：飞机蒙皮上的防腐涂层和功能性涂层（如抗冰涂层、雷达吸波涂层）厚度必须严格控制。高精度的非接触式技术可以实现对这些关键结构件涂层的无损检测。