SCE(IR)-MC-C5模块化光学传感器配合红外线灯光进行工作，完美适用于非接触式厚度测量，即便材料的一面不透明。 该传感器专门针对在一个19”插件中使用最多至 5 个通道的工业内联应用而设计。 不同的型号确保针对大量的应用提供最优解决方案。 针对所有加工阶段中的晶片可以在 10 µm - 1000 µm 的厚度范围内进行精确的离线和在线测量。
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SCE(IR)-MC-C5模块化光学传感器特点：
较大的层厚度测量范围；
抛光的和粗糙的表面；
透明的和不透明的材料；
从单面进行测量；
在线和离线；
较高的横向分辨率；
距离测量（可选）；
简单集成；
无损伤测量；
坚固耐用；
自动光量控制；
较大的测量间距公差范围；
SCE(IR)-MC-C5模块化光学传感器应用领域：
SCE系列传感器利用多种先进的技术来实现快速距离和厚度测量。 传感器采用的光谱共焦(Chromatic confocal)和光干涉 (Interferometric)原理使其可以对几乎任何表面做测量,另外不同种类的白光和红外光源方便了传感器测量多种材料。在光伏设备、玻璃行业、半导体行业、医学、塑料盒坐标测量技术上得到了的广泛的应用和认可。
SCE(IR)-MC-C5模块化光学传感器技术规格：
SCE(IR)-MC-C5模块化光学传感器测量原理：
白光光源①发出白光，经过光纤分路器③进入光纤传导，再通过针孔④白光到达色散物镜⑤，在被测物一侧产生色散，由于波长不同，只有焦点在被测表面上的光才能被反射透过针孔④， 进入针孔④后方的光谱分析仪②。焦点在被测表面上的光波长在光谱分析仪中体现为峰值，由光谱仪的光谱分布可以判断被测物体的高度。
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英国真尚有_光谱共焦线扫描传感器 | SCE(WL)-2D
SCE(WL)-2D光谱共焦线扫描传感器能提供每秒384,000点的超快3D测量，并伴随纳米级的分辨率。得益于稳健与高集成度的设计，SCE(WL)-2D能够方便地集成入生产线上的检验设备，并能胜任于严酷的工业生产环境。传感器的高动态反应和接触的信噪比使其能应用于所有材料包括抛光和严重倾斜的表面。SCE(WL)-2D无与伦比的性价比无疑是超高速3D检测的首选。
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英国真尚有_光谱共焦传感器 | SCE(IR)-HR-C1
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